法國科瑞朗KREON公司參展2022年德國斯圖加特質(zhì)量控制測試及儀器儀表展覽會(huì)

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來源：鴻華科技瀏覽：64 發(fā)表時(shí)間：2022-05-06

德國斯圖加特質(zhì)量控制測試及儀器儀表展覽會(huì)（簡稱Control展）始于1987年，由德國P.E.Schall展覽公司舉辦，一年一屆，已經(jīng)成功舉辦了30多屆，是世界上第一流的質(zhì)量保證、質(zhì)量監(jiān)督專業(yè)展覽會(huì)，是全世界質(zhì)量監(jiān)控方面的行業(yè)領(lǐng)先展會(huì)。

第34屆Control展于2022年5月3日 - 年5月6日在德國斯圖加特會(huì)展中心舉行，展覽以“質(zhì)量”為主題，主要展示非接觸測量、三維測量、光電子學(xué)和激光測量領(lǐng)域的最新技術(shù)和產(chǎn)品。

法國科瑞朗Kreon公司攜全系列解決方案參展第34屆Control展：
- Onyx系列關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測量機(jī) 新品
- Ace 系列關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測量機(jī)
- Skyline系列激光掃描頭 + 關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測量機(jī)
- Zephyr 系列激光掃描頭 + 橋式三坐標(biāo)測量機(jī)
- Zephyr 系列激光掃描頭 + Staubli機(jī)械人自動(dòng)化
- Track Ace 激光跟蹤儀